Elemental analyser, scanning transmission electron microscope, and element analyzing method

WO03038418 Art A1 8. Mai 2003

Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03038418
Aktenzeichen: EP01980957
Anmeldetag: 2. November 2001
Veröffentlichung: 8. Mai 2003
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi

Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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