Structure, fabrication, and corrective test of electron-emitting device having electrode configured to reduce cross-over capacitance and/or facilitate short-circuit repair

WO03050848 Art A2 19. Juni 2003

Anmelder: Candescent Intellectual Property Services, Inc., Sony Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03050848
Aktenzeichen: EP02786882
Anmeldetag: 3. Dezember 2002
Veröffentlichung: 19. Juni 2003
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Candescent Intellectual Property Services, Inc.
Sony Corporation
Land: 🇺🇸 USA

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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