Method and system for measuring profile of large-area using point diffraction light source based on multilateration

WO03064971 Art A1 7. August 2003

Anmelder: Korea Advanced Institute of Science and Technology 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03064971
Aktenzeichen: EP02749404
Anmeldetag: 15. Juli 2002
Veröffentlichung: 7. August 2003
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Advanced Institute of Science and Technology
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 KAIST

Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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