Verfahren und Vorrichtung zur Aufdeckung von Defekten

WO03067520 Art A1 14. August 2003

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03067520
Aktenzeichen: EP03719296
Anmeldetag: 4. Februar 2003
Veröffentlichung: 14. August 2003
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

6.825 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

Vertreten von