Indirekte Messung des Oberfl Chenkontaktwinkels von Fl Ssigkeiten

WO03073045 Art A1 4. September 2003

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03073045
Aktenzeichen: EP03704258
Anmeldetag: 27. Januar 2003
Veröffentlichung: 4. September 2003
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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