A method and system for monitoring and profiling an integrated circuit die temperature

WO03077091 Art A1 18. September 2003

Anmelder: SUN MICROSYSTEMS, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO03077091
Aktenzeichen
EP03744120
Anmeldetag
19. Februar 2003
Veröffentlichung
18. September 2003
Rechtsraum
WO
IPC
G06F1/20
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
SUN MICROSYSTEMS, INC.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Sun Microsystems

Ehemaliger US-amerikanischer Hersteller von Servern, Workstations und Software, bekannt unter anderem für die Programmiersprache Java und das Betriebssystem Solaris. Das Unternehmen wurde 2010 von Oracle übernommen.

1.436 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen