A method and system for monitoring and profiling an integrated circuit die temperature
WO03077091
Art A1
18. September 2003
Anmelder: SUN MICROSYSTEMS, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO03077091
- Aktenzeichen
- EP03744120
- Anmeldetag
- 19. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 18. September 2003
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F1/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SUN MICROSYSTEMS, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Sun Microsystems
Ehemaliger US-amerikanischer Hersteller von Servern, Workstations und Software, bekannt unter anderem für die Programmiersprache Java und das Betriebssystem Solaris. Das Unternehmen wurde 2010 von Oracle übernommen.
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