Method and apparatus for repairing defective columns of memory cells
WO03085671
Art A1
16. Oktober 2003
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO03085671
- Aktenzeichen
- EP00992292
- Anmeldetag
- 28. August 2000
- Veröffentlichung
- 16. Oktober 2003
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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