Method and apparatus for determining layer thickness and composition using ellipsometric evaluation
WO03098397
Art A2
27. November 2003
Anmelder: The Regents of the University of California 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO03098397
- Aktenzeichen
- EP03726902
- Anmeldetag
- 15. Mai 2003
- Veröffentlichung
- 27. November 2003
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- The Regents of the University of California
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
University of California
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