System for aligning wafers and for reading micro bar-codes and marks on chips using laser

WO03098683 Art A1 27. November 2003

Anmelder: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS 🇪🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03098683
Aktenzeichen: EP03722612
Anmeldetag: 9. Mai 2003
Veröffentlichung: 27. November 2003
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/68G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS
Land: 🇪🇸 Spanien

🇪🇸 Consejo Superior de Investigaciones Científicas

Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.

2.461 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von