Verfahren und Anordnung zur Detektion von "soft"-Defekten in einem Speicher

WO03107355 Art A1 24. Dezember 2003

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03107355
Aktenzeichen: EP03728724
Anmeldetag: 7. Mai 2003
Veröffentlichung: 24. Dezember 2003
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung

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