Methods for delay-fault testing in field-programmable gate arrays

WO2004003582 Art A1 8. Januar 2004

Anmelder: University Of North Carolina At Charlotte, Agere Systems Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004003582
Aktenzeichen: EP03762286
Anmeldetag: 1. Juli 2003
Veröffentlichung: 8. Januar 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/317G06F11/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: University Of North Carolina At Charlotte
Agere Systems Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Agere Systems

Agere Systems war ein US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus Lucent Technologies und später in LSI Corporation aufgegangen. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Telekommunikation und Halbleiterbauelemente, ergänzt durch Akustik- und Softwaretechnik. Die Anmeldungen stammen überwiegend aus den Jahren 2000 bis 2009.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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