X-ray inspection device and x-ray inspection method

WO2004010125 Art A1 29. Januar 2004

Anmelder: Hitachi Zosen Corporation, Sugimoto, Iwao 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2004010125
Aktenzeichen
EP02751648
Anmeldetag
18. Juli 2002
Veröffentlichung
29. Januar 2004
Rechtsraum
WO
IPC
G01N23/04A61B6/03
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Hitachi Zosen Corporation
Sugimoto, Iwao
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hitachi Zosen

Hitachi Zosen ist ein japanischer Schwermaschinenbaukonzern mit Wurzeln im Schiffbau, heute unter anderem in der Umwelt- und Energietechnik aktiv. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Verfahrens- und Trenntechnik sowie Halbleiterbauelemente, ergänzt um anorganische Chemie. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2024.

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