X-ray inspection device and x-ray inspection method
WO2004010125
Art A1
29. Januar 2004
Anmelder: Hitachi Zosen Corporation, Sugimoto, Iwao 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2004010125
- Aktenzeichen
- EP02751648
- Anmeldetag
- 18. Juli 2002
- Veröffentlichung
- 29. Januar 2004
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04A61B6/03
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Hitachi Zosen Corporation
Sugimoto, Iwao - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi Zosen
Hitachi Zosen ist ein japanischer Schwermaschinenbaukonzern mit Wurzeln im Schiffbau, heute unter anderem in der Umwelt- und Energietechnik aktiv. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Verfahrens- und Trenntechnik sowie Halbleiterbauelemente, ergänzt um anorganische Chemie. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2024.
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