Low loss rf bias electrode for a plasma reactor with enhanced wafer edge rf coupling and highly efficient wafer cooling

WO2004015736 Art A2 19. Februar 2004

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2004015736
Aktenzeichen
EP03785240
Anmeldetag
11. August 2003
Veröffentlichung
19. Februar 2004
Rechtsraum
WO
IPC
H01J37/20H01J37/32
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Applied Materials, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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