Eye characteristic measurement device and eye characteristic measurement method

WO2004023989 Art A1 25. März 2004

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004023989
Aktenzeichen: EP03795299
Anmeldetag: 5. September 2003
Veröffentlichung: 25. März 2004
Rechtsraum: WO
IPC: A61B3/032A61B3/10A61B3/107

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TOPCON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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