Fourier transform infrared (ftir) spectrometric toxic gas monitoring system, and method of detecting toxic gas species in a fluid environment containing or susceptible to the presence of such toxic gas species

WO2004036173 Art A2 29. April 2004

Anmelder: ADVANCED TECHNOLOGY MATERIALS, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004036173
Aktenzeichen: EP03796294
Anmeldetag: 6. August 2003
Veröffentlichung: 29. April 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01N31/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANCED TECHNOLOGY MATERIALS, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Advanced Technology Materials

Der Anmelder ist ein US-amerikanischer Hersteller von Spezialchemikalien und Materialien für die Halbleiterindustrie, bekannt als ATMI, inzwischen Teil von Entegris. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und Elektrobauelemente sowie auf Verfahrens- und Trenntechnik, Metallurgie und Verpackungstechnik. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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