Building quality monitoring system, building quality monitoring method, and semiconductor integrated circuit device used for them

WO2004046704 Art A1 3. Juni 2004

Anmelder: Renesas Technology Corp. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004046704
Aktenzeichen: EP03774026
Anmeldetag: 14. November 2003
Veröffentlichung: 3. Juni 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01N27/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Renesas Technology Corp.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Renesas Technology

Renesas Technology war ein japanischer Halbleiterhersteller und Vorgängerunternehmen der heutigen Renesas Electronics. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Software, ergänzt um Datenspeicher- und Schaltungstechnik. Anmeldungen stammen aus den Jahren 2000 bis 2009.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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