Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Stressmigrations-Eigenschaften

WO2004048985 Art A1 10. Juni 2004

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004048985
Aktenzeichen: EP03767440
Anmeldetag: 20. November 2003
Veröffentlichung: 10. Juni 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/316

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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