Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke eines Testobjects zwischen Zwei Wirbelstromsensorköpfen
WO2004055471
Art A1
1. Juli 2004
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2004055471
- Aktenzeichen
- EP03790477
- Anmeldetag
- 12. Dezember 2003
- Veröffentlichung
- 1. Juli 2004
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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