Method To Produce Low Leakage High K Materials in Thin Film Form

WO2004057657 Art A1 8. Juli 2004

Anmelder: Infineon Technologies AG, International Business Machines Corporation 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2004057657
Aktenzeichen
EP03813583
Anmeldetag
19. Dezember 2003
Veröffentlichung
8. Juli 2004
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/28H01L21/316C23C14/08H01L29/51H01L29/78H01L21/8242
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Infineon Technologies AG
International Business Machines Corporation
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

4.872 Patente in unserer Datenbank

🇺🇸 IBM

US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Armonk, New York. International Business Machines entwickelt Hardware, Software, Cloud-Dienste sowie Lösungen für künstliche Intelligenz, Halbleiter und Unternehmens-IT.

9.753 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen