Semiconductor device, method for driving semiconductor device, and method for testing semiconductor device

WO2004061811 Art A1 22. Juli 2004

Anmelder: Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004061811
Aktenzeichen: EP03777378
Anmeldetag: 9. Dezember 2003
Veröffentlichung: 22. Juli 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G09G3/30G09G3/20G09G3/36G02F1/133

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Semiconductor Energy Laboratory

Japanisches Forschungsunternehmen mit Sitz in Atsugi. Semiconductor Energy Laboratory (SEL) forscht an Halbleitertechnologien, Flüssigkristall- und OLED-Displays sowie Dünnschichttransistoren.

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Fachgebiete

Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Optik & Fototechnik

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