Ophthalmic data measurement device, ophthalmic data measurement program, and eye characteristic measurement device

WO2004069044 Art A1 19. August 2004

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004069044
Aktenzeichen: EP04706283
Anmeldetag: 29. Januar 2004
Veröffentlichung: 19. August 2004
Rechtsraum: WO
IPC: A61B3/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

Vertreten von