Apparatus and method for inspecting thin film transistor active matrix substrate

WO2004070403 Art A1 19. August 2004

Anmelder: Agilent Technologies, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004070403
Aktenzeichen: EP04705935
Anmeldetag: 28. Januar 2004
Veröffentlichung: 19. August 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00G01R31/28G02F1/136

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Agilent Technologies, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Agilent Technologies

US-amerikanischer Hersteller von Analysegeräten, Labortechnik und Diagnostiklösungen, 1999 als Ausgründung von Hewlett Packard entstanden. Schwerpunkte sind Chromatographie, Massenspektrometrie und Life-Science-Instrumente.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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