Defect inspection device and method therefor
WO2004072628
Art A1
26. August 2004
Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2004072628
- Aktenzeichen
- EP04706859
- Anmeldetag
- 30. Januar 2004
- Veröffentlichung
- 26. August 2004
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/954
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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