Boundary scan controller, semiconductor device, method for identifying semiconductor circuit chip of semiconductor device, and method for controlling semiconductor circuit chip of semiconductor device

WO2004072667 Art A1 26. August 2004

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004072667
Aktenzeichen: EP04709731
Anmeldetag: 10. Februar 2004
Veröffentlichung: 26. August 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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