Standard member for length measurement, method for producing the same, and electron beam length measuring device using the same
WO2004074771
Art A1
2. September 2004
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2004074771
- Aktenzeichen
- EP03723227
- Anmeldetag
- 28. April 2003
- Veröffentlichung
- 2. September 2004
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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