Measurement of point contact andreev-reflection characteristics of half-metallic thin films
WO2004079340
Art A2
16. September 2004
Anmelder: UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2004079340
- Aktenzeichen
- EP04716151
- Anmeldetag
- 1. März 2004
- Veröffentlichung
- 16. September 2004
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N31/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
University of South Florida
Die University of South Florida ist eine öffentliche US-Universität mit Sitz in Tampa. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie Pharma und organische Chemie, ergänzt durch Mess- und Softwarethemen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
793 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.