Method for the recognition of patterns in images affected by optical degradations and application thereof in the prediction of visual acuity from a patient's ocular aberrometry data
WO2004079637
Art A1
16. September 2004
Anmelder: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2004079637
- Aktenzeichen
- EP04718318
- Anmeldetag
- 8. März 2004
- Veröffentlichung
- 16. September 2004
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06K9/62G06K9/80
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS
- Land
- 🇪🇸 Spanien
🇪🇸
Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.
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