Verbindungsstruktur mit Höherer Zuverlässigkeit durch Geringere Stress-Migration

WO2004079791 Art A2 16. September 2004

Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2004079791
Aktenzeichen
EP04716463
Anmeldetag
2. März 2004
Veröffentlichung
16. September 2004
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Advanced Micro Devices

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

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