Film thickness acquiring method

WO2004083776 Art A1 30. September 2004

Anmelder: Japan Science and Technology Agency, Tecnos Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004083776
Aktenzeichen: EP04721292
Anmeldetag: 17. März 2004
Veröffentlichung: 30. September 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/06

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Japan Science and Technology Agency
Tecnos Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Japan Science and Technology Agency

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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