Microchip, sampling method, sample separating method, sample analyzing method, and sample recovering method

WO2004083823 Art A1 30. September 2004

Anmelder: NEC Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004083823
Aktenzeichen: EP04722052
Anmeldetag: 19. März 2004
Veröffentlichung: 30. September 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01N1/10G01N35/08G01N37/00B01D57/00B01D57/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NEC Corporation
NEC CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

19.509 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik

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