Defect correction device and defect correction method
WO2004099866
Art A1
18. November 2004
Anmelder: Olympus Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2004099866
- Aktenzeichen
- EP04730000
- Anmeldetag
- 28. April 2004
- Veröffentlichung
- 18. November 2004
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02F1/13
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Olympus Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Olympus
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Olympus ist auf Medizintechnik spezialisiert, insbesondere Endoskopie- und Bildgebungssysteme, sowie auf wissenschaftliche Instrumente und Präzisionsoptik.
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