Diagnosis of fragile plaque by active temperature-measurement

WO2004105597 Art A1 9. Dezember 2004

Anmelder: Keio University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004105597
Aktenzeichen: EP03817078
Anmeldetag: 28. November 2003
Veröffentlichung: 9. Dezember 2004
Rechtsraum: WO
IPC: A61B5/00A61B8/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Keio University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Keio University

Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.

765 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

Vertreten von