Method and apparatus for testing a medium

WO2004111666 Art A1 23. Dezember 2004

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004111666
Aktenzeichen: EP04753418
Anmeldetag: 26. Mai 2004
Veröffentlichung: 23. Dezember 2004
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/11

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Intel Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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