Method and apparatus for providing a noise estimation for automatic selection of dither patterns in low frequency watermarks

WO2004114531 Art A2 29. Dezember 2004

Anmelder: Sarnoff Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2004114531
Aktenzeichen: EP04755707
Anmeldetag: 21. Juni 2004
Veröffentlichung: 29. Dezember 2004
Rechtsraum: WO
IPC: H04B1/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sarnoff Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Sarnoff

Sarnoff war ein US-amerikanisches Forschungs- und Entwicklungsunternehmen mit Sitz in Princeton, New Jersey, das aus den RCA Laboratories hervorging und später in SRI International aufging. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Nachrichtentechnik und Telekommunikation sowie Halbleitertechnik und Bildsensorik. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2010.

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Fachgebiete

Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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