Non-destructive quality control method for microarray substrate coatings via labeled doping

WO2005000760 Art A2 6. Januar 2005

Anmelder: Schott AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005000760
Aktenzeichen: EP04754891
Anmeldetag: 10. Juni 2004
Veröffentlichung: 6. Januar 2005
Rechtsraum: WO
IPC: C03C17/34C03C17/30G01N33/533G01N21/76G01N33/545

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Schott AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 SCHOTT

Deutsches Technologieunternehmen mit Sitz in Mainz, spezialisiert auf Spezialglas und Glaskeramik für Pharma-, Optik-, Elektronik- und Haushaltsanwendungen.

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Fachgebiete

Anorganische Chemie & Werkstoffe Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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