Mask material for reactive ion etching, mask and dry etching method
WO2005001161
Art A1
6. Januar 2005
Anmelder: TDK Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005001161
- Aktenzeichen
- EP04745826
- Anmeldetag
- 11. Juni 2004
- Veröffentlichung
- 6. Januar 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C23F4/00G11B5/84
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TDK Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
TDK Corporation
TDK Corporation ist ein japanischer Hersteller elektronischer Bauteile, bekannt für Kondensatoren, Sensoren, Batterien und Magnetwerkstoffe.
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