Test system with high accuracy time measurement system

WO2005001493 Art A1 6. Januar 2005

Anmelder: Teradyne, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2005001493
Aktenzeichen
EP04785733
Anmeldetag
3. April 2004
Veröffentlichung
6. Januar 2005
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/3193H04J3/06G04F10/10G01R31/30G01R31/316
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Teradyne, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Teradyne

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

462 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen