Vorrichtung und Verfahren zum Testen von Integrierten Schaltkreisen

WO2005012933 Art A1 10. Februar 2005

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005012933
Aktenzeichen: EP04738903
Anmeldetag: 8. Juli 2004
Veröffentlichung: 10. Februar 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01R35/00G01R31/28H03M1/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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