Method for detecting specified high molecular crystal

WO2005017506 Art A1 24. Februar 2005

Anmelder: Rigaku Corporation, RIKEN 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005017506
Aktenzeichen: EP04772107
Anmeldetag: 18. August 2004
Veröffentlichung: 24. Februar 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/64G01N21/17

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Rigaku Corporation
RIKEN
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 RIKEN

Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.

1.684 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von