Method of analysis of local patterns of curvature distributions

WO2005017836 Art A2 24. Februar 2005

Anmelder: Siemens Medical Solutions USA, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005017836
Aktenzeichen: EP04781154
Anmeldetag: 13. August 2004
Veröffentlichung: 24. Februar 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Siemens Medical Solutions USA, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇩🇪 Siemens Healthcare

Deutsches Unternehmen mit Sitz in Erlangen, frühere Gesundheitssparte des Siemens-Konzerns. Entwickelte medizinische Bildgebungssysteme, Diagnostik und Laborlösungen für Kliniken und Praxen.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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