Prüfung mit Geladenen Teilchenstrahlen

WO2005017997 Art A1 24. Februar 2005

Anmelder: Applied Materials Israel Ltd., Applied Materials, Inc. 🇮🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005017997
Aktenzeichen: EP04717455
Anmeldetag: 4. März 2004
Veröffentlichung: 24. Februar 2005
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01N23/225G01R31/303

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Applied Materials Israel Ltd.
Applied Materials, Inc.
Land: 🇮🇱 Israel

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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