Warp angle measuring equipment and warp angle measuring method of optical recording medium
WO2005022526
Art A1
10. März 2005
Anmelder: TDK Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005022526
- Aktenzeichen
- EP04772258
- Anmeldetag
- 26. August 2004
- Veröffentlichung
- 10. März 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11B7/26G01B11/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TDK Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
TDK Corporation
TDK Corporation ist ein japanischer Hersteller elektronischer Bauteile, bekannt für Kondensatoren, Sensoren, Batterien und Magnetwerkstoffe.
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