Method of determining dominant conformation of compound having chiral alkyl chain and determining parity as to number of carbon atoms of alkyl chain

WO2005026704 Art A1 24. März 2005

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005026704
Aktenzeichen: EP04726794
Anmeldetag: 9. April 2004
Veröffentlichung: 24. März 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/19

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

3.785 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von