Method and device for carrying out speckle interferometry

WO2005029157 Art A1 31. März 2005

Anmelder: Stichting voor de Technische Wetenschappen, Technische Universiteit Delft 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005029157
Aktenzeichen: EP04774865
Anmeldetag: 6. August 2004
Veröffentlichung: 31. März 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G02B27/48

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Stichting voor de Technische Wetenschappen
Technische Universiteit Delft
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 Stichting Voor de Technische Wetenschappen

Stichting voor de Technische Wetenschappen war eine niederländische Stiftung zur Förderung technisch-wissenschaftlicher Forschung, deren Aufgaben inzwischen in NWO überführt wurden. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Messtechnik sowie Pharma- und organische Chemie. Die Anmeldungen von 2000 bis 2020 betreffen unter anderem makromolekulare Zusammensetzungen und poröse Membranen für medizinische Anwendungen.

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🇳🇱 Technische Universiteit Delft

Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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