A method and system for controlling the chemical mechanical polishing by using a sensor signal of a pad conditioner
WO2005032763
Art A1
14. April 2005
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005032763
- Aktenzeichen
- EP04784305
- Anmeldetag
- 17. September 2004
- Veröffentlichung
- 14. April 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B24B37/00B24B53/02B24B7/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
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