Defect inspection device, defect inspection method, and method of machining internal surface of cylindrial object

WO2005038446 Art A1 28. April 2005

Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005038446
Aktenzeichen: EP04771518
Anmeldetag: 11. August 2004
Veröffentlichung: 28. April 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/954F02F1/00

Offizieller Volltext

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Anmelder

Firma: Hitachi, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi

Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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