Method and instrument for measuring complex dielectric constant of sample by optical spectrum measurement

WO2005050177 Art A1 2. Juni 2005

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005050177
Aktenzeichen: EP04819008
Anmeldetag: 22. November 2004
Veröffentlichung: 2. Juni 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/35G01N22/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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