High frequency delay circuit, and testing device

WO2005053158 Art A1 9. Juni 2005

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005053158
Aktenzeichen: EP04819427
Anmeldetag: 26. November 2004
Veröffentlichung: 9. Juni 2005
Rechtsraum: WO
IPC: H03K5/06H03K5/00G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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