Height calibration of scanning probe microscope actuators
WO2005057587
Art A1
23. Juni 2005
Anmelder: MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2005057587
- Aktenzeichen
- EP04795537
- Anmeldetag
- 18. Oktober 2004
- Veröffentlichung
- 23. Juni 2005
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G12B21/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Massachusetts Institute of Technology
US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.
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