Dispositif Et Procede D'observation D'une Interface De Collage

WO2005064320 Art A1 14. Juli 2005

Anmelder: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ( CEA), S.O.I.TEC Silicon on Insulator Technologies, Tracit Technologies 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2005064320
Aktenzeichen: EP04817584
Anmeldetag: 22. Dezember 2004
Veröffentlichung: 14. Juli 2005
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01R31/26H01L21/20H01L21/762

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ( CEA)
S.O.I.TEC Silicon on Insulator Technologies
Tracit Technologies
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 S.O.I.Tec Silicon on Insulator Technologies

S.O.I.Tec Silicon on Insulator Technologies war ein französischer Hersteller von Silizium-auf-Isolator-Wafern für die Halbleiterindustrie, das heutige Unternehmen firmiert als Soitec. Der Patentbestand konzentriert sich fast ausschließlich auf Halbleiterbauelemente und Waferbondverfahren.

323 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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